IC微開短路測試系統(tǒng)IC-TEST SYSTEM-N2/N4
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IC-TEST SYSTEM-N2/N4是Comshare針對芯片管腳微損傷的檢測需求而開發(fā)的一款半導(dǎo)體電性能測試項(xiàng)系統(tǒng)。功能特點(diǎn)(Function and specialty)：
★ 可同時(shí)控制與量測高精度電壓、電流，專為消費(fèi)性電子產(chǎn)品、
IC設(shè)計(jì)與驗(yàn)證、學(xué)術(shù)研究等實(shí)驗(yàn)室提供電性能測試；
★ 最小電流精度：100pA，最小電壓精度：100uV；
★ 電壓輸出范圍：±10V，電流輸出范圍：±100mA；
★ 專為LCM行業(yè)優(yōu)化；
★ 輸出靈活可配，具有四象限輸出；
★ 用戶自定義快速掃描IV曲線，可根據(jù)IV曲線的差異自動(dòng)定位IC微損傷；
★ 可彈性擴(kuò)充通道數(shù)：支持64通道、128通道、256通道、512通道等；
★ 支持標(biāo)配一拖二、擴(kuò)展一拖四等配置，LCM全通道測試時(shí)間小于2s；
適用范圍( Using field)：
TP-TESTER廣泛應(yīng)用于手機(jī)、智能穿戴、平板、車載屏等產(chǎn)業(yè)鏈的觸控IC、FPC的燒錄、測試和SENSOR、TP的測試，適用于GFF、OGS、COB、ONCELL、INCELL、TDDI、AMOLED。
